検査システム向けのセンシングと照明ソリューション

代表的な検査システムは、マシンビジョンソリューションをベースとしており、ラインスキャナを使用した1D、または高度なカメラシステムを使用した2D/3Dの検査システムにハイエンドのイメージセンサとユースケースに特化した照明（近赤外光など）を組み合わせています。

非侵襲的な検査の場合、X線スキャンやCTスキャンを実行して、より複雑なデバイスセットアップ内部に存在する亀裂や見えない構造などを視覚化することもできます。最後に、光学検査ソリューションは、測定を実行するために必要なアナログフロントエンド機能を含む、一体化されたマルチチャンネルカラー とスペクトルセンサ、または必要なスペクトル範囲内の適合するディスクリートエミッタと検出器の柔軟なアセンブリで、分光測定を使用して実現することができます。 

これらの光学部品ソリューションのほか、ams OSRAMは、検査する材料/製品の特性フィールドをチェックするための高感度IQ静電容量センサまたは磁気センサと誘導センサを使用したインピーダンスベースの材料分析に最適なセンサを提供しています。 

光学的、磁気的、電気的、機械的な検査機構を問わず、ams OSRAMの包括的なポートフォリオは適したセンサソリューションを提供します。